Odsečni seminarji

  • Application of XPS, SIMS and AES analytical methods for chemical analyses of thin ceramic films

  •  
    07. 12. 2017 ob 10:00
  •  
    doc. dr. Janez Kovač
  •  
    Maričkina predavalnica

Objava v Nature Materials: "Domain-wall conduction in ferroelectric BiFeO3controlled by accumulation of charged defects"






Raziskovalci Instituta “Jožef Stefan” in Kemijskega inštituta so, v sodelovanju s kolegi iz Švice in Japonske, prvi dokazali prisotnost točkastih defektov na domenskih stenah v feroelektričnem BiFeO3.

Z raziskavo so razložili mehanizem p-tipa električne prevodnosti domenskih sten v BiFeO3 in prispevali manjkajoči člen pri razlagi prevodnosti domenskih sten v feroelektrikih. Raziskava je objavljena v Nature Materials, najuglednejši reviji na področju materialov s faktorjem vpliva 38,89 za leto 2015, kar jo trenutno uvršča med najvplivnejše znanstvene revije (T. Rojac, A. Bencan, G. Drazic, N. Sakamoto, H. Ursic, B. Jancar, G. Tavcar, M. Makarovic, J. Walker, B. Malic in D. Damjanovic,Domain wall conduction in ferroelectric BiFeO3 controlled by accumulation of charged defects).

Raziskave so bile v celoti zasnovane in izvedene na obeh slovenskih institucijah. 

 

Iz sveta K5

Kontaktni podatki

Vodja odseka:
prof. dr. Barbara Malič

Tajništvo:
Tina Ručigaj

T: 01 477 3828
F: 01 477 3887
E: tina.rucigaj@ijs.si