Odsečni seminarji

  • Application of XPS, SIMS and AES analytical methods for chemical analyses of thin ceramic films

  •  
    07. 12. 2017 ob 10:00
  •  
    doc. dr. Janez Kovač
  •  
    Maričkina predavalnica

Iz sveta K5

Kontaktni podatki

Vodja odseka:
prof. dr. Barbara Malič

Tajništvo:
Tina Ručigaj

T: 01 477 3828
F: 01 477 3887
E: tina.rucigaj@ijs.si